Add to Quick Collection
All 49 Results
Showing items 1 - 15 of 49.
Add All Items to Quick Collection
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2015. Т. 58, № 8/3. С. 257-261
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
В работе приводятся результаты исследований полной проводимости МДП-структур на основе гетероэпи-таксиального МЛЭ n(p)-Hg0.78Cd0.22Te с диэлектрическими покрытиями SiO2-Si3N4 и Al2O3 в диапазоне часто
... More
Source: International Journal of Nanotechnology. 2015. Vol. 12, № 3/4. P. 164-173
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2015. Vol. 661. P. 012032 (1-6)
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
The paper presents brief research results of the admittance of metal-insulator- semiconductor (MIS) structures based on Hg1-xCdxTe grown by molecular-beam epitaxy (MBE) method including single HgCdTe/
... More
Source: Физика и техника полупроводников. 2015. Т. 49, вып. 3. С. 379-384
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Source: Proceedings of SPIE. 2015. Vol. 9810 : XII International Conference on Atomic and Molecular Pulsed Lasers, 13–18 September 2015, Tomsk, Russian Federation. P. 98100U-1-98100U-6
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
The purpose of this paper was investigating the effect of volume nanosecond discharge in air at atmospheric pressure on the electro-physical properties of the HgCdTe (MCT) epitaxial films grown by mol
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2015. Т. 58, № 8/3. С. 269-272
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
В работе приводятся результаты исследований адмиттанса МДП-структур на основе n(p)-HgCdTe, выра-щенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии на различных альтернативных подложках (GaAs и Si). Прове-д
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2015. Т. 58, № 8/3. С. 235-238
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
В работе приводятся результаты исследований свойств быстрых поверхностных состояний на границе раз-дела диэлектрик-полупроводник в МДП-структурах на основе МЛЭ n-Hg1-xCdxTe с пассивирующими покрытия-м
... More
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2015. Vol. 652. P. 012003 (1-4)
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
This article investigates the effect of a nanosecond plasma volume discharge, which is formed in an inhomogeneous electrical field at atmospheric pressure, on the electrical properties of MIS structur
... More
Authors:
ereshchenko, Oleg E. |
Eremeev, Sergey V. |
Maurin, I. |
Bakulin, Alexander V. |
Kulkova, Svetlana E. |
Aksenov, Maxim S. |
Preobrazhenskii, V. V. |
Putyato, M. A. |
Semyagin, B. R. |
Golyashov, V. A. |
Dmitriev, D. V. |
Toropov, A. I. |
Gutakovskii, A. K. |
Khandarkhaeva, S. E. |
Prosvirin, I. P.
Source: Applied physics letters. 2015. Vol. 107, № 12. P. 123506-1-123506-5
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
In this letter, we present electrical and magnetic characteristics of HfO2-based metal-oxide-semiconductor capacitors (MOSCAPs), along with the effect of pseudomorphic Si as a passivating interlayer o
... More
Source: Physical chemistry chemical physics. 2015. Vol. 17, № 44. P. 30052-30056
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
Experimental results indicate a particular importance of such a value as the equilibrium thickness of the wetting layer during epitaxial growth according to the Stranski–Krastanow mechanism in systems
... More
Source: International Journal of Nanotechnology. 2015. Vol. 12, № 3/4. P. 285-296
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Source: Russian physics journal. 2015. Vol. 58, № 4. P. 540-551
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
Capacitance-voltage characteristics (CV characteristics) of MIS structures based on graded-gap MBE Hg1–xCdxTe (x = 0.22–0.23) with a two-layer plasma-chemical insulator SiO2/Si3N4 are studied under va
... More
Source: Russian physics journal. 2015. Vol. 58, № 7. P. 970-977
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
The effect of the pulse nanosecond volume discharge in air at atmospheric pressure on the admittance of MIS structures based on MBE graded-gap p-Hg0.78Cd0.22Te is studied in a wide range of frequencie
... More
Source: СВЧ-техника и телекоммуникационные технологии : 25-я Международная Крымская конференция (КрыМиКо'2015), 6-12 сентября 2015 г., Севастополь, Крым, Россия : материалы конференции : в 2 т.. М. [и др.], 2015. Т. 2. С. 709-710
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Infrared physics and technology. 2015. Vol. 71. P. 236-241
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description:
Metal–insulator–semiconductor structures based on n-Hg1−xCdxTe (x = 0.19–0.25) were grown by molecular-beam epitaxy on the GaAs (0 1 3) substrates. Near-surface graded-gap layers with high CdTe conten
... More