Add to Quick Collection
All 2 Results
Showing items 1 - 2 of 2.
Add All Items to Quick Collection
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2014. Т. 57, № 1. С. 57-62
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Description:
Методом измерения удельного сопротивления, концентрации и времени жизни носителей заряда (τ), а также с помощью инфракрасного микроскопа определены типы и природа структурных дефектов в кремнии р-типа
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2011. Т. 54, № 5. С. 75-78
Type: статьи в журналах
Date: 2011
Description:
Исследуется ияние дефекто наведенных облучением быстрыми нейронами, на скорость удаления носителей заряда в ядерно-легированном кремнии (p-Si<B, P>) и контрольном p-Si<B> методом измерения коэфициента
... More