Add to Quick Collection
All 20 Results
Showing items 1 - 15 of 20.
Add All Items to Quick Collection
Source: Journal of electronic materials. 2021. Vol. 50, № 4. P. 2323-2330
Type: статьи в журналах
Date: 2021
Description:
The effect of As+ ion implantation on the electrical properties of the near-surface layer of n-HgCdTe films grown by molecular beam epitaxy (MBE) on Si (310) substrates was experimentally studied. A s
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2023. Т. 66, № 10. С. 44-53
Type: статьи в журналах
Date: 2023
Description:
Определены оптимальные параметры фоточувствительной униполярной барьерной структуры, которая обладает фоточувствительностью в диапазоне 1−3 мкм, посредством расчета зависимостей максимальной обнаружит
... More
Authors:
Voytsekhovskiy, Alexander V. |
Izhnin, Igor I. |
Mynbaev, Karim D. |
Nesmelov, Sergey N. |
Dzyadukh, Stanislav M. |
Varavin, Vasilii S. |
Dvoretsky, Sergei A. |
Mikhailov, Nikolay N. |
Yakushev, Maxim V. |
Korotaev, A. G. |
Sidorov, Georgiy Yu.
Source: Surface and coatings technology. 2020. Vol. 392. P. 125760 (1-5)
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description:
Metal–insulator–semiconductor (MIS) structures based on HgCdTe were fabricated after various stages of pn
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2021. Т. 64, № 5. С. 3-8
Type: статьи в журналах
Date: 2021
Description:
Изготовлены два вида длинноволновых nBn-структур на основе теллурида кадмия и ртути, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках из GaAs(013). Для каждого вида приборов боковые стен
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2020. Т. 63, № 6. С. 8-15
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description:
Изготовлены три вида nBn -структур на основе теллурида кадмия - ртути, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии. В качестве барьерных слоев в nBn -структурах использовался Hg1-x Cd x Te при x
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 1. С. 109-118
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
В диапазоне температур 9–77 К экспериментально исследованы вольт-фарадные характеристики (ВФХ) МДП-структур на основе варизонного n-Hg₁₋ₓCdₓTe (x = 0.22–0.40), выращенного методом молекулярно-лучевой
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2020. Т. 63, № 3. С. 76-87
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description:
Представлены результаты исследований адмиттанса униполярных барьерных структур на основе HgCdTe, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) на подложках из GaAs (013). С использованием па
... More
Authors:
Grigoryev, Denis V. |
Korotaev, A. G. |
Kokhanenko, Andrey P. |
Lozovoy, Kirill A. |
Izhnin, Igor I. |
Savytskyy, Hrygory V. |
Bonchyk, A. Yu. |
Dvoretsky, Sergei A. |
Mikhailov, Nikolay N. |
Voytsekhovskiy, Alexander V. |
Varavin, Vasilii S. |
Yakushev, Maxim V.
Source: Materials research express. 2019. Vol. 6, № 7. P. 075912 (1-8)
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description:
In this paper experimental results of research of boron ion implantation into Hg1−x Cd x Te epitaxial films of various compositions x are presented. Samples of epitaxial films were grown by the method
... More
Authors:
Syvorotka, I. I. |
Fitsych, Olena I. |
Varavin, Vasilii S. |
Dvoretsky, Sergei A. |
Marin, D. V. |
Mikhailov, Nikolay N. |
Remesnik, V. G. |
Yakushev, Maxim V. |
Mynbaev, Karim D. |
Izhnin, Igor I. |
Voytsekhovskiy, Alexander V. |
Korotaev, A. G.
Source: Semiconductor science and technology. 2019. Vol. 34, № 3. P. 035009 (1-7)
Type: статьи в журналах
Date: 2019
Description:
The results from the electrical profiling of an n-on-p junction formed by 190-keV arsenic ion implantation in an indium/vacancy–doped Hg0.78Cd0.22Te film are presented. Mobility spectrum analysis in c
... More
Source: Russian physics journal. 2020. Vol. 63, № 3. P. 432-445
Type: статьи в журналах
Date: 2020
Description:
The results of studying the admittance of unipolar barrier structures based on HgCdTe grown by molecular beam epitaxy (MBE) on GaAs (013) substrates are presented. Using passivation with an Al2O3 insu
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2010. Т. 53, № 4. С. 16-20
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description:
Приведены результаты расчета профилей распределения радиационных дефектов и термомеханических характеристик материала при воздействии мощными лазерными пучками на полупроводниковые образцы КРТ, в рамк
... More
Source: X Международная конференция по фотонике и информационной оптике : сборник научных трудов. М., 2021. С. 215-216
Type: статьи в сборниках
Date: 2021
Description:
Представлены результаты экспериментальных исследований темновых токов в средне- и длинноволновых nBn-структурах на основе HgCdTe, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках из GaAs
... More
Source: Прикладная физика. 2018. № 3. С. 22-26
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description:
В широком диапазоне условий измерения экспериментально исследован адмиттанс МДП-структур на основе МЛЭ p-Hg1-xCdxTe/Si(013) с приповерхностным варизонным слоем с повышенным содержанием CdTe и без тако
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2011. Т. 54, № 3. С. 3-9
Type: статьи в журналах
Date: 2011
Description:
Исследовано влияние областей с периодическими резкими неоднородностями по составу толщиной 48–54 нм на электрофизические характеристики МДП-структур на основе варизонного n-Hg1–xCdxTe с x = 0,29–0,31,
... More
Source: Актуальные проблемы радиофизики АПР-2023 : 10-я Международная научно-практическая конференция, 26-29 сентября 2023 года, г. Томск : сборник трудов конференции. Томск, 2023. С. 270-271
Type: статьи в сборниках
Date: 2023