Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
приповерхностные слои

Add to Quick Collection   All 6 Results

Showing items 1 - 6 of 6.
  • «
  • 1
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2017. Vol. 830. P. 012083 (1-6)
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: In this work we studied the characteristics of MBE MCT films after the introduction of different energies As+ with different doses of irradiation. Some of the samples were subjected to post-implantati ... More
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2017. Vol. 830. P. 012081 (1-4)
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: The effect of ion implantation of boron ions with an energy of 100 keV and a dose of (1-6)×1015 cm-2 in the MBE HgCdTe films on the characteristics of the MIS structures based on these films was inves ... More
Source: Нано- и микросистемная техника. 2017. Т. 19, № 1. С. 3-20
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: Рассмотрены возможности исследования электрофизических свойств МДП-структур на основе n(p)-Hgi _ xCdxTe (x = 0,21...0,23), выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии, в широком диапазоне темпер ... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 12. С. 122-127
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: Приведены результаты экспериментального исследования фотоэлектрических характеристик двухслойных фоторезисторов на основе р -Cd x Hg1-x Te ( x = 0.24-0.28) с тонким приповерхностным слоем n -типа пров ... More
Source: Седьмая Международная конференция "Кристаллофизика и деформационное поведение перспективных материалов", посвященная памяти профессора С. С. Горелика ; Вторая Международная школа молодых ученых "Актуальные проблемы современного материаловедения", Москва, 2-5 октября 2017 г. : тезисы докладов. М., 2017. С. 58
Type: статьи в сборниках
Date: 2017
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 12/2. С. 202-205
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: Использована специальная методика измерений электрофизических характеристик МДП-структур на основе МЛЭ HgCdTe, позволяющая исключить влияние гистерезисных явлений на результаты измерения первой произв ... More
  • «
  • 1
  • »
^