Add to Quick Collection
All 3176 Results
Showing items 1 - 15 of 3176.
Add All Items to Quick Collection
Source: 6th International congress on energy fluxes and radiation effects (EFRE 2018), September 16-22, 2018, Tomsk, Russia : abstracts. Tomsk, 2018. P. 353
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: 2018 20th International symposium on high-current electronics (ISHCE 2018), Tomsk, Russia, September 16-22, 2018 : proceedings. [S. l.], 2018. P. 66-69
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
An ultrawideband square array of cylindrical
Source: 2018 20th International symposium on high-current electronics (ISHCE 2018), Tomsk, Russia, September 16-22, 2018 : proceedings. [S. l.], 2018. P. 70-73
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
The influence of the arrangement of a rectangular
Source: Information Technologies and Mathematical Modelling. Queueing Theory and Applications : 17th International Conference, ITMM 2018, named after A. F. Terpugov and 12th Workshop on Retrial Queues and Related Topics, WRQ 2018, Tomsk, Russia, September 10-15, 2018 : selected papers. Cham, 2018. P. 274-289
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
A model of a multi-link homogeneous transport connection with limited buffer storage in transit nodes as a network of queuing systems with discrete time is proposed. An estimate of the lower bound of
... More
Source: 2018 20th International symposium on high-current electronics (ISHCE 2018), Tomsk, Russia, September 16-22, 2018 : proceedings. [S. l.], 2018. P. 61-65
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
Characteristics of a source of linearly-polarized
Source: Информационные технологии и математическое моделирование (ИТММ-2018) : материалы XVII Международной конференции имени А. Ф. Терпугова, 10-15 сентября 2018 г.. Томск, 2018. С. 26-32
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Восьмая международная конференция по когнитивной науке, 18-21 октября 2018 г., Светлогорск, Россия : тезисы докладов. М., 2018. С. 633-635
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2018), Kazan, Russia, September 14-17, 2018. [S. l.], 2018. P. 726-730
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
Increasing chips complexity originates a problem of
Source: Восьмая международная конференция по когнитивной науке, 18-21 октября 2018 г., Светлогорск, Россия : тезисы докладов. М., 2018. С. 68-70
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2018), Kazan, Russia, September 14-17, 2018. [S. l.], 2018. P. 645-648
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: XXV Международная научно-техническая конференция и школа по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 24-26 мая 2018 г., Москва, Россия : труды конференции. М., 2018. Т. 2 : Стендовые доклады. С. 398-401
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: 2018 IEEE 24th International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS 2018), 2-4 July 2018, Spain. [S. l.], 2018. P. 240-242
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
Performance of VLSI is, first of all, its high operation
Source: Proceedings of the Scientific-practical conference "Research and development - 2016", 14-15 December 2016, Moscow, Russia. Cham, 2018. P. 511-518
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
In this paper, the problems of production and characterization of
Authors:
Astafurova, Elena G. |
Moskvina, V. A. |
Melnikov, E. V. |
Astafurov, Sergey V. |
Tumbusova, I. |
Fortuna, A. |
Panchenko, M. Yu. |
Mironov, Yu. P. |
Mirovoy, Y. |
Maier, G. G. |
Galchenko, N. K.
Source: Международная конференция "Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций" ; X Международная конференция "Химия нефти и газа" : тезисы докладов. Томск, 2018. С. 432
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2018), Kazan, Russia, September 14-17, 2018. [S. l.], 2018. P. 256-261
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
In this paper, we discuss how the robustness of the