Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
отказоустойчивые схемы

Add to Quick Collection   All 5 Results

Showing items 1 - 5 of 5.
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Add   A fault-tolerant sequential circuit design for stuck-at faults and path delay faults
Authors: Matrosova, Anjela Yu. | Kirienko, Irina E. | Nikolaeva, Ekaterina A. | Ostanin, Sergey A.
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2017. № 41. С. 61-68
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description: This paper presents a fault-tolerant synchronous sequential circuit design based on self-checking system with low overhead. The scheme has only one self-checking sequential circuit, normal (unprotecte ... More
Add   A fault-tolerant sequential circuit design for SAFs and PDFs soft errors
Authors: Matrosova, Anjela Yu. | Kirienko, I. E. | Nikolaeva, E. A. | Ostanin, S. A.
Source: 2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 4-6 July 2016, Hotel Eden Roc, Sant Feliu de Guixols, Catalunya, Spain. [S. l.], 2016. P. [1-2]
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Add   A fault-tolerant sequential circuit design for soft errors based on fault-secure circuit
Authors: Ostanin, S. A. | Butorina, Natalia Borisovna | Lavrov, V. A. | Matrosova, Anjela Yu.
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2016), Yerevan, Armenia, October 14-17, 2016. [S. l.], 2016. P. 607-610
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Add   Синтез отказоустойчивых последовательностных схем для неисправностей задержек путей
Authors: Останин, Сергей Александрович | Кириенко, Ирина Евгеньевна | Николаева, Екатерина Александровна | Матросова, Анжела Юрьевна
Source: Новые информационные технологии в исследовании сложных структур : материалы одиннадцатой международной конференции, 6-10 июня 2016 г.. Томск, 2016. С. 59-60
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Add   A fault-tolerant combinational circuit design
Authors: Ostanin, S. A. | Kirienko, I. E. | Lavrov, V. A.
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2015), Batumi, Georgia, September 26-29, 2015. [S. l.], 2015. P. 302-305
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
^