Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
Nikolaeva, E. A.

Add to Quick Collection   All 4 Results

Showing items 1 - 4 of 4.
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Add   A fault-tolerant sequential circuit design for SAFs and PDFs soft errors
Authors: Matrosova, Anjela Yu. | Kirienko, I. E. | Nikolaeva, E. A. | Ostanin, S. A.
Source: 2016 IEEE 22nd International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design (IOLTS), 4-6 July 2016, Hotel Eden Roc, Sant Feliu de Guixols, Catalunya, Spain. [S. l.], 2016. P. [1-2]
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Add   Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design
Authors: Matrosova, A. Yu. | Nikolaeva, E. A. | Kirienko, I. E. | Ostanin, S. A.
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2015. № 4. С. 82-90
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Add   Combinational circuits without false paths
Authors: Matrosova, A. Yu. | Kudin, D. | Nikolaeva, E. A.
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2014), Kiev, Ukraine, September 26-29, 2014. [S. l.], 2014. P. 179-184
Type: статьи в сборниках
Date: 2014
Add   Robust PDFs testing of combinational circuits based on covering BDDs
Authors: Nikolaeva, E. A. | Ostanin, S. A. | Singh, V. | Matrosova, Anjela Yu.
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2012. № 3 (20). С. 129-138
Type: статьи в журналах
Date: 2012
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
^