Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
МДП-структуры | 2016

Add to Quick Collection   All 6 Results

Showing items 1 - 6 of 6.
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Add   Admittance investigation of MIS structures with GgTe-based single quantum wells
Authors: Izhnin, Igor I. | Dzyadukh, Stanislav M. | Voytsekhovskiy, Alexander V. | Gorn, Dmitriy Igorevich | Dvoretsky, Sergei A. | Mikhailov, Nikolaj N. | Nesmelov, Sergey N.
Source: Nanoscale research letters. 2016. Vol. 11. P. 53 (1-4)
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: This work presents results of the investigation of admittance of metal-insulator-semiconductor structure based on Hg1 − xCdxTe grown by molecular beam epitaxy. The structure contains a single quantum ... More
Add   Admittance of MIS structures based on graded-gap MBE HgCdTe with Al2O3 insulator
Authors: Voytsekhovskiy, Alexander V. | Dzyadukh, Stanislav M. | Vasilev, Vladimir V. | Varavin, Vasilii S. | Dvoretsky, Sergei A. | Mikhailov, Nikolay N. | Yakushev, Maxim V. | Sidorov, Georgiy Y. | Nesmelov, Sergey N.
Source: Physica status solidi C. 2016. Vol. 13, № 7/9. P. 647-650
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: The paper presents the results of studies of the admittance of MIS structures based on heteroepitaxial MBE n (p)-Hg0.78Cd0.22Te with insulator coating SiO2/Si3N4 and Al2O3 in the test signal frequency ... More
Add   Electro-physical characteristics of MIS structures with HgTe-based single quantum wells for optoelectronics devices
Authors: Dzyadukh, Stanislav M. | Voytsekhovskiy, Alexander V. | Gorn, Dmitriy Igorevich | Nesmelov, Sergey N.
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2016. Vol. 735. P. 012012 (1-5)
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: The paper presents brief research results of the admittance of metal-insulator- semiconductor (MIS) structures based on Hg1-xCdxTe grown by molecular-beam epitaxy (MBE) method including single HgCdTe/ ... More
Add   Temperature and field dependences of parameters of the equivalent circuit elements of MIS structures based on MBE n-Hg0.775Cd0.225Te in the strong inversion mode
Authors: Voytsekhovskiy, Alexander V. | Nesmelov, Sergey N. | Dzyadukh, Stanislav M.
Source: Russian physics journal. 2016. Vol. 59, № 7. P. 920-933
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: A technique is proposed for the determining the parameters of the equivalent circuit elements in strong inversion mode using the measurement results of the admittance of MIS structures based on n-Hg0. ... More
Add   Особенности определения концентрации легирующей примеси в приповерхностном слое полупроводника путем измерения адмиттанса МДП-структур на основе p-Hg0.78Cd0.22Te, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Authors: Войцеховский, Александр Васильевич | Несмелов, Сергей Николаевич | Дзядух, Станислав Михайлович
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59, № 2. С. 105-114
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: Исследованы особенности определения концентрации и профиля распределения легирующей примеси в приповерхностном слое полупроводника при помощи измерения адмиттанса МДП-структур на основе p-Hg₀.₇₈Cd₀.₂₂ ... More
Add   Температурные и полевые зависимости параметров элементов эквивалентной схемы МДП-структур на основе МЛЭ n-Hg0.775Cd0.225Te в режиме сильной инверсии
Authors: Войцеховский, Александр Васильевич | Несмелов, Сергей Николаевич | Дзядух, Станислав Михайлович
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59, № 7. С. 8-18
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: Предложена методика для определения параметров элементов эквивалентной схемы в сильной инверсии из результатов измерения адмиттанса МДП-структур на основе n-Hg₀.₇₇₅Cd0.₂₂₅Te, выращенного методом молек ... More
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
^