Синтез тестов для цифровых систем на высоком и низком уровнях абстракции

doi:10.17223/19988605/47/13

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Синтез тестов для цифровых систем на высоком и низком уровнях абстракции	857 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.17223/19988605/47/13

#конечные автоматы

#тестовые последовательности

#мутационный подход

#обход графа переходов

#последовательностные цифровые системы

Title: Синтез тестов для цифровых систем на высоком и низком уровнях абстракции
Title: Deriving tests for digital circuits at lower and higher abstraction levels
Creator: Лапутенко, Андрей Владимирович
|
Винарский, Евгений Максимович
Date: 2019
DOI: 10.17223/19988605/47/13
Description: Исследуется задача построения тестов с гарантированной полнотой для последовательностных цифровых систем. Рассматриваются тесты, нацеленные как на обнаружение в логических схемах низкоуровневых неисправностей различных типов, так и на более высокий функциональный уровень. Для построения тестов по модели логической схемы используется мутационный подход. При построении тестов с гарантированной полнотой для автоматной модели, т.е. модели более высокого уровня, тесты, построенные по логической схеме, дополняются последовательностями, которые позволяют покрыть ранее не покрытые переходы соответствующего конечного автомата. Расширенные тесты являются полными как относительно мутантов логической схемы, так и относительно автоматных ошибок. Приводятся результаты компьютерных экспериментов с описаниями последовательностных логических схем и соответствующими им конечными автоматами, подтверждающие эффективность предложенного подхода.

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Радиофизический факультет | Журналы ТГУ
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type: статьи в журналах
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2019. № 47. С. 110-117
Language: rus