Add to Quick Collection
All 11 Results
Showing items 1 - 11 of 11.
Add All Items to Quick Collection
Source: IX Международная конференция "Лазерные, плазменные исследования и технологии" ЛаПлаз-2023 : сборник научных трудов. М., 2023. С. 43
Type: статьи в сборниках
Date: 2023
Description:
Приводятся результаты исследования ВФХ МДП структур на основе CdxHg1-xTe, подвергнутых действию мягкого рентгеновского излучения. Предлагается модель генерации поверхностных дефектов излучением.
Source: Физика твердого тела : сборник материалов XIV Российской научной студенческой конференции, 13–15 мая 2014 г., Томск, Россия. Томск, 2014. С. 152-155
Type: статьи в сборниках
Date: 2014
Source: Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XII Международной конференции студентов и молодых ученых, 21-24 апреля 2015 г.. Томск, 2015. С. 413-415
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Физика твердого тела : сборник материалов XIV Российской научной студенческой конференции, 13–15 мая 2014 г., Томск, Россия. Томск, 2014. С. 158-160
Type: статьи в сборниках
Date: 2014
Source: Инноватика-2021 : сборник материалов XVII Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 22-23 апреля 2021 г., г. Томск, Россия. Томск, 2021. С. 133-137
Type: статьи в сборниках
Date: 2021
Description:
The article is devoted to the study of a non-contact method for determining the type of conductivity in a particularly pure solution. The results of a literature review and comparison with contact met
... More
Source: Х Международная научно-техническая конференция "Вакуумная техника, материалы и технология" (Москва, КВЦ "Сокольники", 2015, 14-16 апреля). М., 2015. С. 238-242
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Инноватика - 2018 : сборник материалов XIV Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 26-27 апреля 2018 г., г. Томск, Россия. Томск, 2018. С. 125-128
Type: статьи в сборниках
Date: 2018
Description:
The article is devoted to a non-contact method for measuring the resistivity of semiconductor
Source: Atomic and Molecular Pulsed Lasers : 12 International Conference, September 14-18, 2015, Tomsk, Russia : abstracts. Tomsk, 2015. P. 121
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Инноватика - 2019 : сборник материалов XV Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 25-27 апреля 2019 г., г. Томск, Россия. Томск, 2019. С. 181-185
Type: статьи в сборниках
Date: 2019
Description:
The article is devoted to a complex method for measuring the resistivity of semiconductor
Source: Catalysis: from science to industry : proceedings of VI International scientific school-conference for young scientists, October 6-10, 2020. Tomsk, 2020. P. 88
Type: статьи в сборниках
Date: 2020
Source: Фотоника-2015 : Российская конференция по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых), 12-16 октября 2015 г., Новосибирск : тезисы докладов. Новосибирск, 2015. С. 99
Type: статьи в сборниках
Date: 2015