Investigation of the effect of thermal annealing on the electrical properties of the near-surface layer of MBE n-HgCdTe using MIS techniques

doi:10.1007/s11664-020-08005-0

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Investigation of the effect of thermal annealing on the electrical properties of the near-surface layer of MBE n-HgCdTe using MIS techniques	1 MB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.1007/s11664-020-08005-0

#еллурид кадмия-ртути

#молекулярно-лучевая эпитаксия

#термический отжиг

#варизонный слой

#адмиттанс

Title: Investigation of the effect of thermal annealing on the electrical properties of the near-surface layer of MBE n-HgCdTe using MIS techniques
Creator: Nesmelov, Sergey N.
|
Dzyadukh, Stanislav M.
|
Varavin, Vasilii S.
|
Dvoretsky, Sergei A.
|
Mikhailov, Nikolay N.
|
Sidorov, Georgiy Yu.
|
Yakushev, Maxim V.
|
Marin, Denis V.
|
Voytsekhovskiy, Alexander V.
Date: 2020
DOI: 10.1007/s11664-020-08005-0
Description: Heteroepitaxial n-Hg0.78Cd0.22Te films with near-surface graded-gap layers

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Радиофизический факультет | Научное управление
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type: статьи в журналах
Source: Journal of electronic materials. 2020. Vol. 49, № 5. P. 3202-3208
Language: eng

Created: 16-03-2021

7442 Visitors

7211 Hits

329 Downloads

Радиофизический факультет

Научное управление Investigation of the effect of thermal annealing on the electrical properties of the near-surface layer of MBE n-HgCdTe using MIS techniques