https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Index en-us 5 Анализ изменения поверхности при росте Ge, GeSi на Si(100) и Si(111) методом дифракции быстрых электронов https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/koha:000926091 Fri 30 Dec 2022 15:13:42 KRAT ]]>