https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Index en-us 5 Определение дефектности приповерхностного слоя полупроводниковых гетероструктур на основе МЛЭ HgCdTe при измерении адмиттанса МДП-структур https://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000622619 Mon 28 Jan 2019 12:02:27 KRAT ]]>