Add to Quick Collection
All 2 Results
Showing items 1 - 2 of 2.
Add All Items to Quick Collection
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2022. Т. 65, № 9. С. 20-26
Type: статьи в журналах
Date: 2022
Description:
Методом просвечивающей дифракционной электронной микроскопии проведено исследование структуры, фазового состава, дефектов, амплитуды внутренних напряжений и их источников в ультрамелкозернистом технич
... More
Source: Перспективы развития фундаментальных наук : сборник научных трудов XIV Международной конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, Россия, Томск, 25-28 апреля 2017 г.. Томск, 2017. Т. 1 : Физика. С. 243-245
Type: статьи в сборниках
Date: 2017