Работа посвящена исследованию метода неинвазивного контроля микроэлектронных устройств, основанного на использовании результатов пост-анализа процесса взаимодействия электромагнитных волн терагерцового (ТГц) диапазона частот с объектами микроэлектроники. В эксперименте используется спектрометр ТГц диапазона, генерирующий непрерывный квазиоптический пучок, через который последовательно (шаг за шагом) перемещается исследуемый