Your search on %D0%9A%D1%83%D0%B6%D0%B5%D0%BB%D0%B5%D0%B2%D0%B0 %E2%80%93 %D0%A1%D0%B0%D0%B3%D0%B0%D0%BD %D0%98. %D0%9F. %D0%9E%D1%81%D0%BD%D0%BE%D0%B2%D1%8B %D1%82%D0%B5%D0%BE%D1%80%D0%B8%D0%B8 %D0%BA%D0%BE%D0%BC%D0%BC%D1%83%D0%BD%D0%B8%D0%BA%D0%B0%D1%86%D0%B8%D0%B8 produced these results.
Add to Quick Collection
All 2 Results
Showing items 1 - 2 of 2.
Add All Items to Quick Collection
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59, № 7. С. 8-18
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description:
Предложена методика для определения параметров элементов эквивалентной схемы в сильной инверсии из результатов измерения адмиттанса МДП-структур на основе n-Hg₀.₇₇₅Cd0.₂₂₅Te, выращенного методом молек
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59, № 2. С. 105-114
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description:
Исследованы особенности определения концентрации и профиля распределения легирующей примеси в приповерхностном слое полупроводника при помощи измерения адмиттанса МДП-структур на основе p-Hg₀.₇₈Cd₀.₂₂
... More
