Add to Quick Collection
All 2 Results
Showing items 1 - 2 of 2.
Add All Items to Quick Collection
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2022. Т. 65, № 9. С. 20-26
Type: статьи в журналах
Date: 2022
Description:
Методом просвечивающей дифракционной электронной микроскопии проведено исследование структуры, фазового состава, дефектов, амплитуды внутренних напряжений и их источников в ультрамелкозернистом технич
... More
Source: Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций : международная конференция, 19-23 сентября 2016 г., Томск, Россия : тезисы докладов. Томск, 2016. С. 162-163
Type: статьи в сборниках
Date: 2016