Add to Quick Collection
All 2 Results
Showing items 1 - 2 of 2.
Add All Items to Quick Collection
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2010. Т. 53, № 3/2. С. 37-41
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description:
Методами рентгеновской дифрактометрии и просвечивающей электронной микроскопии исследована структура термоэлектрического материала Bi2Sb1,5Te3. Изучена зависимость размеров областей когерентного рассе
... More
Source: Вестник Томского государственного университета. Математика и механика. 2010. № 2. С. 60-70
Type: статьи в журналах
Date: 2010