Представлены результаты экспериментального исследования методом просвечивающей электронной микроскопии (ПЭМ) структуры деформированных поликристаллических материалов с размером зерен мезо- и микроуровня. Изучена картина следов скольжения, накопление скалярной плотности дислокаций и ее компонент, кривизна-кручение кристаллической решетки и внутренние напряжения. Выявлено различие характеристик дефектной структуры поликристаллов на микро- и мезоуровне.