Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник – поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник – поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением	425 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.51368/978-5-94836-696-8-2024-339

Title: Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник – поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением
Creator: Средин, Виктор Геннадиевич
|
Войцеховский, Александр Васильевич
|
Степанченко, А. В.
|
Мелехов, Андрей Петрович
|
Рамакоти, Рави Шрираджа
Date: 2024
DOI: 10.51368/978-5-94836-696-8-2024-339

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Радиофизический факультет
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type: статьи в сборниках
Source: XXVII Международная научно-техническая конференция по фотоэлектронике и приборам ночного видения, 29-31 мая 2024 г., Москва, Россия : материалы конференции. М., 2024. С. 339-341
Language: rus

Created: 11-10-2024

389 Visitors

358 Hits

69 Downloads

Радиофизический факультет Дефектообразование в структурах узкозонный полупроводник – поверхностный окисел мягким рентгеновским излучением