Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
2016

Add to Quick Collection   All 7 Results

Showing items 1 - 7 of 7.
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Add   Effect of a boron implantation on the electrical properties of epitaxial HgCdTe with different material composition
Authors: Lyapunov, D. V. | Grigoryev, Denis V. | Korotaev, A. G. | Voytsekhovskiy, Alexander V. | Kokhanenko, Andrey P. | Iznin, I. I. | Savytskyy, Hrygory V. | Bonchik, A. U. | Dvoretsky, Sergei A. | Pishchagin, Anton A. | Mikhailov, Nikolay N.
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2016. Vol. 741. P. 012097 (1-5)
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: In this work the experimental results of investigations of the dynamics of accumulation and spatial distribution of electrically active radiation defects when irradiating epitaxial films of Hg1-xCdxTe ... More
Add   Elongated quantum dots of Ge on Si growth kinetics modeling with respect to the additional energy of edges
Authors: Lozovoy, Kirill A. | Kokhanenko, Andrey P. | Voytsekhovskiy, Alexander V. | Pishchagin, Anton A.
Source: Journal of Physics: Conference Series. 2016. Vol. 741. P. 012019 (1-4)
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: In this paper refining of mathematical model for calculation of parameters of selforganised quantum dots (QDs) of Ge on Si grown by the method of molecular beam epitaxy (MBE) is done. Calculations of ... More
Add   Temperature and field dependences of parameters of the equivalent circuit elements of MIS structures based on MBE n-Hg0.775Cd0.225Te in the strong inversion mode
Authors: Voytsekhovskiy, Alexander V. | Nesmelov, Sergey N. | Dzyadukh, Stanislav M.
Source: Russian physics journal. 2016. Vol. 59, № 7. P. 920-933
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: A technique is proposed for the determining the parameters of the equivalent circuit elements in strong inversion mode using the measurement results of the admittance of MIS structures based on n-Hg0. ... More
Add   Кинетика формирования наногетероструктур с квантовыми точками германия на кремнии для приборов оптоэлектроники : диссертация на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук : 01.04.10.
Authors: Лозовой, Кирилл Александрович | Коханенко, Андрей Павлович (научный руководитель)
Type: диссертации
Date: 2016
Add   Особенности определения концентрации легирующей примеси в приповерхностном слое полупроводника путем измерения адмиттанса МДП-структур на основе p-Hg0.78Cd0.22Te, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии
Authors: Войцеховский, Александр Васильевич | Несмелов, Сергей Николаевич | Дзядух, Станислав Михайлович
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59, № 2. С. 105-114
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: Исследованы особенности определения концентрации и профиля распределения легирующей примеси в приповерхностном слое полупроводника при помощи измерения адмиттанса МДП-структур на основе p-Hg₀.₇₈Cd₀.₂₂ ... More
Add   Солнечные элементы на основе квантовых структур кремний-германий
Authors: Кравцова, Наталья Сергеевна
Source: Труды XIII Всероссийской конференции студенческих научно-исследовательских инкубаторов, Томск, 17-18 мая 2016 г.. Томск, 2016. С. 91-93
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Add   Температурные и полевые зависимости параметров элементов эквивалентной схемы МДП-структур на основе МЛЭ n-Hg0.775Cd0.225Te в режиме сильной инверсии
Authors: Войцеховский, Александр Васильевич | Несмелов, Сергей Николаевич | Дзядух, Станислав Михайлович
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2016. Т. 59, № 7. С. 8-18
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: Предложена методика для определения параметров элементов эквивалентной схемы в сильной инверсии из результатов измерения адмиттанса МДП-структур на основе n-Hg₀.₇₇₅Cd0.₂₂₅Te, выращенного методом молек ... More
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »

Creator

Subject

Resource Type

^