Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
электронная микроскопия

Add to Quick Collection   All 7 Results

Showing items 1 - 7 of 7.
  • «
  • 1
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Перспективные материалы с иерархической структурой для новых технологий и надежных конструкций : международная конференция, 9-13 октября 2017 года, Томск, Россия : тезисы докладов. Томск, 2017. С. 329-331
Type: статьи в сборниках
Date: 2017
Source: Technical physics. 2015. Vol. 60, № 5. P. 686-694
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description: The microstructure, the stresses, and the elemental composition of Ti-Al-Si-N gradient coatings are studied by transmission electron microscopy and electron-probe microanalysis of thin foils prepared ... More
Source: AIP Conference Proceedings. 2015. Vol. 1683. P. 020172-1-020172-4
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description: Using the method of microprobe analysis and transmission electron microscopy, the influence of obtaining conditions upon particular elemental composition and growth structure coatings of Ti–Al–Si–Mo–S ... More
Source: Журнал технической физики. 2015. Т. 85, вып. 5. С. 57-65
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description: С использованием методов просвечивающей электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа выполнено исследование изменения микроструктуры, напряжений и элементного состава в тонких фольгах ... More
  • «
  • 1
  • »

Date

^