Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
константные неисправности

Add to Quick Collection   All 3 Results

Showing items 1 - 3 of 3.
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Add   Pseudo-exhaustive testing of sequential circuits for multiple stuck-at faults
Authors: Matrosova, Anjela Yu. | Mitrofanov, Evgenii V.
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2016), Yerevan, Armenia, October 14-17, 2016. [S. l.], 2016. P. 533-536
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Add   Testing components of interacting timed finite state machines
Authors: Gromov, Maxim | Tvardovskii, Aleksandr | Yevtushenko, Nina V.
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2016), Yerevan, Armenia, October 14-17, 2016. [S. l.], 2016. P. 193-196
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Add   Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design
Authors: Matrosova, A. Yu. | Nikolaeva, E. A. | Kirienko, I. E. | Ostanin, S. A.
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2015. № 4. С. 82-90
Type: статьи в журналах
Date: 2015
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
^