Please be patient while the object screen loads.
Description | Size | Format | ||
---|---|---|---|---|
Измерение времени жизни носителей заряда в SI-GaAs:Cr и EL2-GaAs методом pump-probe-терагерцовой спектроскопии | 633 KB | Adobe Acrobat PDF | View Details | Download |
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя | 10.17223/00213411/63/4/16 |