Please be patient while the object screen loads.
Электронная библиотека (репозиторий)
Томского государственного университета
English
Русский
Home
Show
All
Show
Quick Collection
Browse ↓
Communities & Collections
By Title
By Creator
By Subject
By Date
Additional Resources
Search History
Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
-
Сделать пожертвование
-
Advanced Search
Потекаев, Александр Иванович
|
Ритвельда метод рентгенофазного анализа полнопрофильный
Add to Quick Collection
Description
Size
Format
Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов
13 MB
Adobe Acrobat PDF
View Details
Download
Title
Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов : монография
Creator
Клопотов, Анатолий Анатольевич
Creator
Абзаев, Юрий Афанасьевич
Creator
Потекаев, Александр Иванович
Contributor
Томский политехнический университет
Томский государственный архитектурно-строительный университет
Сибирский физико-технический институт им. В. Д. Кузнецова (Томск)
Subject
рентгеновское излучение
кристаллография геометрическая
дифрактограммы
кристаллические решетки
сингонии
фазовый анализ количественный
фазовый анализ качественный
рентгеновская дифрактометрия
взаимодействие рентгеновского излучения с веществом
поликристаллические материалы
Ритвельда метод рентгенофазного анализа полнопрофильный
Date
2013
Publisher
Томск : Издательство Томского политехнического университета
Description
Авт. указ. на обороте тит. л.
Relationships
Show Relationship Browser for this Object
collection(s)
Сибирский физико-технический институт
Identifier
vtls:000462825
URN:ISBN:9785438701972
http://vital.lib.tsu.ru/vital/access/manager/Repository/vtls:000462825
Type
монографии
Language
rus
3343 Visitors
2904 Hits
837 Downloads
Preview
Сибирский физико-технический институт
Физические основы рентгеноструктурного исследования кристаллических материалов : монография
^ DIV >