Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
2015

Add to Quick Collection   All 2 Results

Showing items 1 - 2 of 2.
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Add   A fault-tolerant combinational circuit design
Authors: Ostanin, S. A. | Kirienko, I. E. | Lavrov, V. A.
Source: Proceedings of IEEE East-West Design & Test Symposium (EWDTS'2015), Batumi, Georgia, September 26-29, 2015. [S. l.], 2015. P. 302-305
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Add   Fully delay and multiple stuck-at fault testable sequential circuit design
Authors: Matrosova, A. Yu. | Nikolaeva, E. A. | Kirienko, I. E. | Ostanin, S. A.
Source: Вестник Томского государственного университета. Управление, вычислительная техника и информатика. 2015. № 4. С. 82-90
Type: статьи в журналах
Date: 2015
  • «
  • ←
  • 1
  • →
  • »
^