Authors: Несмелов, Сергей Николаевич | Кульчицкий, Николай Александрович | Мельников, Александр Александрович (доктор физ.-мат. наук) | Мальцев, Петр Павлович | Войцеховский, Александр Васильевич

Source: Нано- и микросистемная техника. 2012. № 2. С. 28-35

Type: статьи в журналах

Date: 2012

Authors: Коханенко, Андрей Павлович | Коротаев, Александр Григорьевич | Григорьев, Денис Валерьевич | Кульчицкий, Николай Александрович | Мельников, Александр Александрович (доктор физ.-мат. наук) | Войцеховский, Александр Васильевич

Source: Прикладная физика. 2012. № 1. С. 82-89

Type: статьи в журналах

Date: 2012

Authors: Несмелов, Сергей Николаевич | Кульчицкий, Николай Александрович | Мельников, Александр Александрович (доктор физ.-мат. наук) | Мальцев, Петр Павлович | Войцеховский, Александр Васильевич

Source: Нано- и микросистемная техника. 2012. № 3. С. 25-34

Type: статьи в журналах

Date: 2012

Authors: Войцеховский, Александр Васильевич | Коротаев, Александр Григорьевич | Григорьев, Денис Валерьевич | Кульчицкий, Николай Александрович | Мельников, Александр Александрович (доктор физ.-мат. наук) | Коханенко, Андрей Павлович

Source: Нано- и микросистемная техника. 2010. № 6. С. 10-17

Type: статьи в журналах

Date: 2010

Description: Пpиведен обзоp имеющихся данных по пpоцессам pадиационного дефектообpазования в КPТ, выpащенном объемными и эпитаксиальными методами. Pассмотpено влияние на электpофизические паpаметpы матеpиала облуч ... More