Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета

Add to Quick Collection   All 6 Results

Showing items 1 - 6 of 6.
  • «
  • 1
  • »
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Наука. Технологии. Инновации, г. Новосибирск, 30 ноября - 04 декабря 2020 г. : сборник научных трудов : в 9 ч.. Новосибирск, 2020. Ч. 6. С. 43-46
Type: статьи в сборниках
Date: 2020
Description: В статье приводится обзор работ по созданию термофотоэлектрических преобразователей (ТФЭ) на основе полупроводниковых наногетероструктур. Рассматриваются наиболее важные технические аспекты ТФЭ, а так ... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2018. Т. 61, № 7. С. 8-14
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description: Рассматриваются инфракрасные фотодетекторы с квантовыми точками германия на кремнии. Рассчитываются некоторые характеристики таких детекторов, а именно: темновой ток и обнаружительная способность в ре ... More
Source: Кремний 2016 : XI конференция и X школа молодых ученых и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе, 12-15 сентября 2016 г., Новосибирск : тезисы докладов. Новосибирск, 2016. С. 173
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Source: Кремний 2016 : XI конференция и X школа молодых ученых и специалистов по актуальным проблемам физики, материаловедения, технологии и диагностики кремния, нанометровых структур и приборов на его основе, 12-15 сентября 2016 г., Новосибирск : тезисы докладов. Новосибирск, 2016. С. 178
Type: статьи в сборниках
Date: 2016
Source: Интерэкспо ГЕО-Сибирь-2015 : XI Международные научный конгресс и выставка. СибОптика-2015 : Международная научная конференция : сборник материалов : [в 3 т.]. Новосибирск, 2015. Т. 1. С. 201-205
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Нано- и микросистемная техника. 2010. № 6. С. 10-17
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description: Пpиведен обзоp имеющихся данных по пpоцессам pадиационного дефектообpазования в КPТ, выpащенном объемными и эпитаксиальными методами. Pассмотpено влияние на электpофизические паpаметpы матеpиала облуч ... More
  • «
  • 1
  • »

Date

^