Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета
полупроводники

Add to Quick Collection   All 95 Results

Showing items 1 - 15 of 95.
Sort:
 Add All Items to Quick Collection
Source: Semiconductors. 2015. Vol. 49, № 3. P. 298-304
Type: статьи в журналах
Date: 2015
Description: Using As2S3 and AsS2 glasses as an example, the principal possibility of using positron annihilation spectroscopy methods for studying the evolution of the free volume of hollow nanoobjects in chalcog ... More
Source: Journal of Thermal Analysis and Calorimetry. 2014. Vol. 117, № 3. P. 1509-1516
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Physica E: Low-dimensional systems and nanostructures. 2014. Vol. 60. P. 11-16
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Journal of physics and chemistry of solids. 2013. Vol. 74, № 9. P. 1240-1248
Type: статьи в журналах
Date: 2013
Source: Journal of experimental and theoretical physics. 2012. Vol. 114, № 6. P. 1037-1042
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Scientific Reports [Еlectronic resource]. 2016. Vol. 6. P. 24137 (1-6)
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: We report an ab initio study of the effect of hydrostatic pressure and uniaxial strain on electronic properties of KNa2Bi, a cubic bialkali bismuthide. It is found that this zero-gap semimetal with an ... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2012. Т. 55, № 5. С. 100-104
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Description: Исследованы основные параметры копланарной линии, используемой для возбуждения волн геликонового типа. Определены компоненты векторов напряженности электрического и магнитного полей, вектора Пойнтинга ... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2010. Т. 53, № 4. С. 93-95
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Source: Вестник Томского государственного университета. 2005. № 285 : Серия "Физика". С. 155-163
Type: статьи в журналах
Date: 2005
Source: Semiconductors. 2016. Vol. 50, № 2. P. 171-179
Type: статьи в журналах
Date: 2016
Description: Halogen (F, Cl, Br, and I) adsorption at an As-stabilized GaAs (001) surface with the β2–(2 × 4) reconstruction is studied using the plane-wave projected-augmented wave method. The effect of halogens ... More
Source: Semiconductors. 2012. Vol. 46, № 1. P. 49-55
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: IX Международная конференция "Лазерные, плазменные исследования и технологии" ЛаПлаз-2023 : сборник научных трудов. М., 2023. С. 43
Type: статьи в сборниках
Date: 2023
Description: Приводятся результаты исследования ВФХ МДП структур на основе CdxHg1-xTe, подвергнутых действию мягкого рентгеновского излучения. Предлагается модель генерации поверхностных дефектов излучением.

Date

^