Add to Quick Collection
All 11 Results
Showing items 1 - 11 of 11.
Add All Items to Quick Collection
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2014. Т. 57, № 3. С. 54-67
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Прикладная физика. 2012. № 1. С. 82-89
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 56, № 7. С. 36-49
Type: статьи в журналах
Date: 2013
Source: Прикладная физика. 2018. № 4. С. 61-67
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description:
Представлены расчеты нагрева кристалла CdxHg1-xTe (КРТ) с x = 0,22 в процессе ионнолучевого травления (ИЛТ) низкоэнергетическими ионами Ar+. Показано, что при хорошем тепловом контакте кристалла и охл
... More
Authors:
Ижнин, Игорь Иванович |
Савицкий, Григорий Владимирович |
Свентек, Збигнев |
Войцеховский, Александр Васильевич |
Коротаев, Александр Григорьевич |
Мынбаев, Карим Джафарович |
Варавин, Василий Семенович |
Дворецкий, Сергей Алексеевич |
Михайлов, Николай Николаевич (физик) |
Якушев, Максим Витальевич |
Бончик, Александр Юрьевич |
Фицич, Елена Ивановна
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2017. Т. 60, № 10. С. 92-97
Type: статьи в журналах
Date: 2017
Description:
Проведены комплексные исследования дефектной структуры имплантированных ионами мышьяка (с энергией 190 кэВ) пленок Cd x Hg1- x Te ( x = 0.22), выращенных молекулярно-лучевой эпитаксией. Исследования п
... More
Source: Прикладная физика. 2018. № 4. С. 54-60
Type: статьи в журналах
Date: 2018
Description:
Исследованы вольт-фарадные характеристики МДП-структур, полученных на основе эпитаксиальных слоев n-Cd0,24Hg0,76Te, подвергнутых воздействию мягкого рентгеновского излучения. Показано, что в результат
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2010. Т. 53, № 4. С. 16-20
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description:
Приведены результаты расчета профилей распределения радиационных дефектов и термомеханических характеристик материала при воздействии мощными лазерными пучками на полупроводниковые образцы КРТ, в рамк
... More
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2012. Т. 55, № 8/3. С. 73-75
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 56, № 8. С. 29-36
Type: статьи в журналах
Date: 2013
Source: Нано- и микросистемная техника. 2010. № 6. С. 10-17
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description:
Пpиведен обзоp имеющихся данных по пpоцессам pадиационного дефектообpазования в КPТ, выpащенном объемными и эпитаксиальными методами. Pассмотpено влияние на электpофизические паpаметpы матеpиала облуч
... More
Source: Вестник Томского государственного университета. 2005. № 285 : Серия "Физика". С. 39-42
Type: статьи в журналах
Date: 2005