Add to Quick Collection
All 3 Results
Showing items 1 - 3 of 3.
Add All Items to Quick Collection
Source: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. 2010. № 4. С. 94-99
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Source: Нано- и микросистемная техника. 2010. № 6. С. 10-17
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description:
Пpиведен обзоp имеющихся данных по пpоцессам pадиационного дефектообpазования в КPТ, выpащенном объемными и эпитаксиальными методами. Pассмотpено влияние на электpофизические паpаметpы матеpиала облуч
... More
Source: Доклады Академии наук. 2010. Т. 432, № 2. С. 181-183
Type: статьи в журналах
Date: 2010