Add to Quick Collection
All 24 Results
Showing items 16 - 24 of 24.
Add All Items to Quick Collection
Authors:
Ижнин, Игорь Иванович |
Войцеховский, Александр Васильевич |
Коротаев, Александр Григорьевич |
Бончик, Александр Юрьевич |
Савицкий, Григорий Владимирович |
Варавин, Василий Семенович |
Дворецкий, Сергей Алексеевич |
Михайлов, Николай Николаевич (физик) |
Якушев, Максим Витальевич |
Фицич, Елена Ивановна |
Мынбаев, Карим Джафарович
Source: Фотоника-2015 : Российская конференция по актуальным проблемам полупроводниковой фотоэлектроники (с участием иностранных ученых), 12-16 октября 2015 г., Новосибирск : тезисы докладов. Новосибирск, 2015. С. 42
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Authors:
Ижнин, Игорь Иванович |
Савицкий, Григорий Владимирович |
Świątek, Zbigniew |
Ozga, Piotr |
Войцеховский, Александр Васильевич |
Коротаев, Александр Григорьевич |
Мынбаев, Карим Джафарович |
Варавин, Василий Семенович |
Дворецкий, Сергей Алексеевич |
Михайлов, Николай Николаевич (физик) |
Якушев, Максим Витальевич |
Бончик, Александр Юрьевич |
Фицич, Елена Ивановна
Source: Полупроводники 2015 : XII Российская конференция по физике полупроводников, Ершово, 21-25 сентября 2015 г. : тезисы докладов. М., 2015. С. 333
Type: статьи в сборниках
Date: 2015
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2014. Т. 57, № 10/3. С. 126-130
Type: статьи в журналах
Date: 2014
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2013. Т. 56, № 9/2. С. 137-139
Type: статьи в журналах
Date: 2013
Source: Успехи прикладной физики. 2013. Т. 1, № 3. С. 333-337
Type: статьи в журналах
Date: 2013
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2012. Т. 55, № 8/3. С. 65-66
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Прикладная физика. 2012. № 1. С. 82-89
Type: статьи в журналах
Date: 2012
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2011. Т. 54, № 10. С. 88-90
Type: статьи в журналах
Date: 2011
Source: Нано- и микросистемная техника. 2010. № 6. С. 10-17
Type: статьи в журналах
Date: 2010
Description:
Пpиведен обзоp имеющихся данных по пpоцессам pадиационного дефектообpазования в КPТ, выpащенном объемными и эпитаксиальными методами. Pассмотpено влияние на электpофизические паpаметpы матеpиала облуч
... More