Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса

doi:10.17223/00213411/64/1/3

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса	567 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.17223/00213411/64/1/3

#нанокристаллиты

#тонкие магнитные пленки

#случайная магнитная анизотропия

#структурная константа

#ферромагнитный резонанс

#сверхвысокие частоты

#"рябь" намагниченности

Title: Определение структурной константы и размера нанокристаллитов тонких магнитных пленок методом ферромагнитного резонанса
Creator: Беляев, Борис Афанасьевич
|
Боев, Никита Михайлович
|
Горчаковский, Александр Антонович
|
Изотов, Андрей Викторович
|
Соловьев, Платон Николаевич
Date: 2021
DOI: 10.17223/00213411/64/1/3
Description: Показана возможность определения структурной константы S и среднего размера кристаллитов анизотропной нанокристаллической магнитной пленки по форме острого пика поглощения СВЧ-мощности, наблюдаемого при развертке внешнего магнитного поля вдоль оси трудного намагничивания. В теории «ряби» намагниченности с константой S связана поверхностная плотность энергии локальной магнитной анизотропии и по величине S оценивается качество нанокристаллических пленок. Эффективность нового способа определения S продемонстрирована на нанокристаллической пленке Co-P толщиной 300 нм. Спектр поглощения СВЧ-мощности снимался с локального участка пленки площадью ~ 1 мм2 на сканирующем спектрометре ферромагнитного резонанса. Вычисленное значение S из анализа спектра позволило определить средний размер кристаллитов пленки, хорошо совпадающий с измерениями просвечивающей электронной микроскопии.