О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов	2 MB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.17223/20710410/51/4

Title: О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов
Title: On logic networks allowing short single fault detection tests under arbitrary faults of gates
Creator: Попков, Кирилл Андреевич
Date: 2021
DOI: 10.17223/20710410/51/4
Description: Доказано, что любую неконстантную булеву функцию от n переменных можно реализовать неизбыточной схемой из функциональных элементов в базисе {&, ф, —}, содержащей не более одной фиктивной входной переменной и допускающей единичный проверяющий тест длины не более 2n + 3 относительно произвольных неисправностей элементов.

Created: 22-03-2021

544 Visitors

357 Hits

196 Downloads

Журналы ТГУ О схемах, допускающих короткие единичные проверяющие тесты при произвольных неисправностях функциональных элементов