Please be patient while the object screen loads.
Электронная библиотека (репозиторий)
Томского государственного университета
English
Русский
Home
Show
All
Show
Quick Collection
Browse ↓
Communities & Collections
By Title
By Creator
By Subject
By Date
Additional Resources
Search History
Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
-
Сделать пожертвование
-
Advanced Search
Preview
Add to "Quick Collection"
Description
Size
Format
Особенности измерения удельного сопротивления поликристаллического кремния
791 KB
Adobe Acrobat PDF
Read
Download
#поликристаллический кремний
#удельное сопротивление полупроводников
#экспериментальные исследования
Title
Особенности измерения удельного сопротивления поликристаллического кремния
Title
Features of measuring resistivity in polycrystalline silicon
Creator
Левашкин, Андрей Геньевич
|
Башкиров, Александр Иванович
|
Лапатин, Леонид Григорьевич
|
Воронин, Дмитрий Алексеевич
|
Гончарова, Мария Александровна
Date
2020
Description
The article is devoted to the features of measuring resistivity in polycrystalline
Relationships
Show Relationship Browser for this Object
collection(s)
Научное управление
|
Факультет инновационных технологий
Identifier
смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type
статьи в сборниках
Source
Инноватика - 2020 : сборник материалов XVI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 23-25 апреля 2020 г., г. Томск, Россия. Томск, 2020. С. 119-124
Language
rus
Created: 28-01-2021
832 Visitors
429 Hits
436 Downloads
Факультет инновационных технологий
Научное управление
Особенности измерения удельного сопротивления поликристаллического кремния
^ DIV >