Please be patient while the object screen loads.
Description | Size | Format | ||
---|---|---|---|---|
Диагностика включений в кристаллах ZnGeP2 методом терагерцовой спектроскопии | 1 MB | Adobe Acrobat PDF | View Details | Download |
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя | 10.17223/00213411/62/6/80 |