Структура, микрорельеф и оптические свойства пленок железа, полученных методом термического испарения в вакууме

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Структура, микрорельеф и оптические свойства пленок железа, полученных методом термического испарения в вакууме	3 MB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download

#пленки железа

#термическое испарение

#микрорельеф

#кристаллическая структура

#оптические свойства

Title: Структура, микрорельеф и оптические свойства пленок железа, полученных методом термического испарения в вакууме
Creator: Атучин, Виктор Валерьевич
|
Покровский, Лев Дмитриевич
|
Солдатенков, Иван Степанович
|
Троицкая, Ирина Баязитовна
|
Кожухов, Антон Сергеевич
|
Кручинин, Владимир Николаевич
|
Кочубей, Василий Александрович
Date: 2015
Description: В данной работе исследованы структура, микрорельеф и оптические свойства толстых, непрозрачных и тонких, полупрозрачных пленок железа, нанесенных на подложки из плавленого кварца и кремния методом термического испарения. Исследования структуры методом дифракции электронов высокой энергии на отражение показали, что поверхностный слой пленок железа является мелкокристаллическим поликристаллом железа (пр. группа симметрии Im3m) с выраженной текстурой. Кроме того, установлено присутствие очень слабой примеси кристаллов Fe2O3 (пр. группа симметрии Ia3). Методом атомной силовой микроскопии установлено, что поверхность пленок железа на кремнии является оптически гладкой с максимальным размером шероховатостей не превышающим 12-15 нм. Исследования оптических свойств пленок железа методом спектральной эллипсометрии позволили получить дисперсионные кривые показателя преломления, n(λ), и коэффициента поглощения, k(λ), в диапазоне длин волн λ = 250-1100 нм, как для толстых, так и для тонких пленок. Спектральные зависимости n(l) и k(l) пленок обоих типов оказались близки и качественно соответствовали типичным кривым n(l) и k(l) для металлов. Толщина полупрозрачных пленок измерялась методом лазерной эллисометрии на длине волны λ = 632,8 нм.

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Радиофизический факультет
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type: статьи в журналах
Source: Фундаментальные проблемы современного материаловедения. 2015. Т. 12, № 3. С. 338-345
Language: rus