Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета

Расчет критической толщины перехода по Странскому-Крастанову в материальной системе GeSi/Sn/Si

Title
F:\Book.pdf
Version
1.5
Pages
10
Size
5 MB
Producer
ABBYY FineReader 12
Image Thumbnail Open in Browser | View Pdf in Internal Viewer | Download 5 MB
^