Определение дефектности приповерхностного слоя полупроводниковых гетероструктур на основе МЛЭ HgCdTe при измерении адмиттанса МДП-структур

Title

F:\Тезисы_Кристаллофизика_2017.pdf

Version

1.5

Pages

4

Size

501 KB

Producer

PDF Printer / www.bullzip.com / FPG / Freeware Edition (max 10 users)