Определение дефектности приповерхностного слоя полупроводниковых гетероструктур на основе МЛЭ HgCdTe при измерении адмиттанса МДП-структур
- Title
- F:\Тезисы_Кристаллофизика_2017.pdf
- Version
- 1.5
- Pages
- 4
- Size
- 501 KB
- Producer
- PDF Printer / www.bullzip.com / FPG / Freeware Edition (max 10 users)
Open in Browser
|
View Pdf in Internal Viewer
|
Download
501 KB