Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем	629 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.17223/20710410/34/5

Title: Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем
Creator: Попков, Кирилл Андреевич
Date: 2016
DOI: 10.17223/20710410/34/5
Description: Получены экспоненциальные нижние оценки длин следующих тестов: 1) полных диагностических тестов при однотипных и произвольных константных неисправностях на входах схем и 2) полных диагностических тестов для схем из функциональных элементов в некоторых базисах при однотипных и произвольных константных неисправностях на выходах элементов.

Created: 26-12-2016

732 Visitors

592 Hits

144 Downloads

Журналы ТГУ Нижние оценки длин полных диагностических тестов для схем и входов схем