Электронная библиотека (репозиторий) Томского государственного университета

Зависимость критической толщины перехода по Странскому-Крастанову в системе GexSi1-x/Si от температуры и состава

Version
1.5
Pages
2
Size
3 MB
Producer
iText 2.1.7 by 1T3XT
Image Thumbnail Open in Browser | View Pdf in Internal Viewer | Download 3 MB
^