Исследование характеристик наногетероструктур Si/Ge с квантовыми точками методом адмиттансной спектроскопии
- Title
- Microsoft Word - 5 Сек-1_20.doc
- Version
- 1.x
- Pages
- 3
- Size
- 501 KB
- Producer
- Acrobat Distiller 7.0.5 (Windows)
Open in Browser
|
View Pdf in Internal Viewer
|
Download
501 KB
