Трехмерный нейросетевой анализ дефектов радиоэлектронной аппаратуры

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Трехмерный нейросетевой анализ дефектов радиоэлектронной аппаратуры	603 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download

Title: Трехмерный нейросетевой анализ дефектов радиоэлектронной аппаратуры
Title: Three-dimensional neural network analysis of defects in electronic equipment
Creator: Сырямкин, Владимир Иванович
|
Классен, Федор Андреевич
Date: 2025
Description: В статье рассматриваются проблемы, связанные с обнаружением дефектов в электронном оборудовании. Основное внимание уделяется неразрушающим методам контроля, включающим нейронные сети и 3D-рентгеновскую микротомографию. Кроме того, освещаются ключевые препятствия, которые могут возникнуть при внедрении этих передовых методов.

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Факультет инновационных технологий
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Relation: Инноватика-2025 : сборник материалов XXI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 28-30 апреля 2025 г., г. Томск, Россия
Type: статьи в сборниках
Source: Инноватика-2025 : сборник материалов XXI Международной школы-конференции студентов, аспирантов и молодых ученых, 28-30 апреля 2025 г., г. Томск, Россия. Томск, 2025. С. 521-524
Language: rus

Created: 26-12-2025

50 Visitors

43 Hits

11 Downloads

Факультет инновационных технологий Трехмерный нейросетевой анализ дефектов радиоэлектронной аппаратуры