Возможный метод диагностики субфемтосекундных электронных пучков по когерентному оптическому переходному излучению

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Возможный метод диагностики субфемтосекундных электронных пучков по когерентному оптическому переходному излучению	593 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download

Title: Возможный метод диагностики субфемтосекундных электронных пучков по когерентному оптическому переходному излучению
Creator: Потылицин, Александр Петрович
|
Алексеев, Борис Александрович (физик)
Date: 2018
Description: Когерентное переходное излучение (КПИ) широко используется для определения продольных размеров электронных пучков в ускорительной технике. Рассматривается процесс КПИ в реальной Au-мишени для определения размеров электронных пучков длительностью от 100 до 300 нм и показана возможность использования таких мишеней.

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Журналы ТГУ
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type: статьи в журналах
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2018. Т. 61, № 11. С. 117-121
Language: rus