Сообщаются результаты исследований рентгеноструктурных параметров кристаллической решетки и их температурных зависимостей в окрестностях фазового перехода металл – диэлектрик твердых растворов V1–xFexO2, а также сравнений рентгеновской и пикнометрической плотности этих материалов. Проводится оценка концентрации дефектов в изученных материалах при комнатной температуре.