Недеструктивный количественный элементный анализ поверхности материалов

doi:10.17223/00213411/67/1/14

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Недеструктивный количественный элементный анализ поверхности материалов	572 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.17223/00213411/67/1/14

#количественный анализ

#элементный состав

#резерфордовское обратное рассеяние

#диагностика

#тонкие пленки

Title: Недеструктивный количественный элементный анализ поверхности материалов
Title: Non-destructive quantitative elemental analysis of the surface of materials
Creator: Егоров, Евгений Владимирович
|
Егоров, Владимир Константинович (канд. физ.-мат. наук)
|
Кореневский, Егор Леонидович
Date: 2024
DOI: 10.17223/00213411/67/1/14
Description: Представлены возможности методов резерфордовского обратного рассеяния и метода протон-индуцированной рентгеновской эмиссии, а также особенности их применения для недеструктивной элементной диагностики поверхности материалов. Показано, что совместное использование этих методов позволяет количественно характеризовать химический состав поверхностного слоя различных объектов и определять элементный концентрационный профиль по толщине этого слоя с наноразмерным разрешением. Использование методов продемонстрировано на примерах тонкопленочных покрытий, образцов нефти и текстильной промышленности.

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Журналы ТГУ
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Rights: Resource access is available in the premises of Research Library
Type: статьи в журналах
Source: Известия высших учебных заведений. Физика. 2024. Т. 67, № 1. С. 120-125
Language: rus