Короткие проверяющие тесты для контактных схем при произвольных слабо связных неисправностях контактов

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Короткие проверяющие тесты для контактных схем при произвольных слабо связных неисправностях контактов	676 KB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download
DOI Доступ к ресурсу на сайте издателя			10.17223/20710410/62/6

Title: Короткие проверяющие тесты для контактных схем при произвольных слабо связных неисправностях контактов
Title: Short fault detection tests for contact circuits under arbitrary weakly connected faults of contacts
Creator: Попков, Кирилл Андреевич
Date: 2023
DOI: 10.17223/20710410/62/6
Description: Доказано, что для любого натурального k любую булеву функцию можно реализовать двухполюсной контактной схемой, k-неизбыточной и допускающей k-проверяющий тест длины не более 3 относительно произвольных связных неисправностей контактов в группах, где каждая группа состоит из одного замыкающего и одного размыкающего контакта. Установлено, что если булева функция не является самодвойственной, то оценку можно понизить до 2.

Created: 15-12-2023

216 Visitors

142 Hits

85 Downloads

Журналы ТГУ Короткие проверяющие тесты для контактных схем при произвольных слабо связных неисправностях контактов