Рассматриваются методы фокусировки электромагнитных волн, основанные на использовании двумерных фотонных кристаллов, образованных металлическими и диэлектрическими элементами. В первом случае физическая основа создания систем фокусировки излучения заключается в проявлении металлическими фотонными кристаллами на частотах первой разрешенной зоны свойств однородной среды с ультранизкими значениями показателя преломления. Во втором – для фокусировки используется возможность конструктивной интерференции волн прямого прохождения и краевых волн, дифрагирующих на кромках пространственно ограниченных диэлектрических структур.