Схемное решение ближнепольного интерференционного СВЧ микроскопа на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения

Эндаумент фонд ТГУ!
Впиши своё имя в историю университета
- Сделать пожертвование -

Add to "Quick Collection"

Description	Size	Format
Схемное решение ближнепольного интерференционного СВЧ микроскопа на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения	1 MB	Adobe Acrobat PDF	Read	Download

#СВЧ-излучение

#полное внутреннее отражение

#интерференционная микроскопия

#ближнепольный микроволновый микроскоп

Title: Схемное решение ближнепольного интерференционного СВЧ микроскопа на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения
Creator: Беличенко, Виктор Петрович
|
Запасной, Андрей Сергеевич
|
Мироньчев, Александр Сергеевич
|
Клоков, Андрей Владимирович
|
Матвиевский, Ефим Владимирович
Date: 2019

Relationships: Show Relationship Browser for this Object
collection(s): Радиофизический факультет
Identifier: смотреть в электронном каталоге НБ ТГУ
Type: статьи в сборниках
Source: Актуальные проблемы радиофизики АПР 2019 : 8-я Международная научно-практическая конференция, 1-4 октября 2019 года, г. Томск : сборник трудов конференции. Томск, 2019. С. 84-86
Language: rus

Created: 23-07-2021

643 Visitors

450 Hits

206 Downloads

Радиофизический факультет Схемное решение ближнепольного интерференционного СВЧ микроскопа на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения